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参数化测试系统 (S530/S540)

参数化测试系统 (S530/S540)

参数化测试系统 (S530/S540)

SEMI-4200A · 2 型号

全部型号
型号S530
S530
S540
S540
通道S530S540
输出频率S530S540
采样率S530S540
垂直分辨率S530S540
频率范围S530S540
实时带宽S530S540
POI 最短事件时长S530S540
说明半导体参数化测试系统,支持测试头,KTE 软件环境半导体参数化测试系统,48 引脚晶片级测试,3kV 电容测量