半导体设计和制造测试解决方案

解决方案泰克2026年9月18日

泰克及旗下吉时利品牌提供从晶圆到系统的专业半导体测试方案，覆盖材料测试、工艺测试、芯片设计与验证四大平台。

助力您的半导体设计更快上市

泰克及旗下吉时利品牌，提供从晶元到系统的专业半导体测试方案。包括半导体材料测试平台、半导体工艺测试平台、芯片设计测试平台、芯片验证测试平台等。

半导体材料测试平台：针对晶元级半导体材料或器件，泰克提供半导体参数分析仪（4200A-SCS），用于测试分离器件、材料的直流特性（IV/IT/VT/RT 曲线）、电容电压特性（CV 曲线）和脉冲特性测试（PMU），支持超高速脉冲与多通道同步测试。针对高功率半导体器件，提供高功率晶体管参数曲线图示仪（2600B-PCT），支持高压、高流条件下的 IV/CV 曲线测试。
半导体工艺测试平台：针对大规模晶元多点测试与复杂自动化系统，提供自动化半导体参数测试系统（S500/S530/S540），支持各类 Wafer 与 MEMS 的自动化、半自动化参数测试，广泛用于失效分析（FA）、质量控制（QA）与可靠性分析（RA），其中 S540 支持高压功率半导体自动化参数测试。
芯片设计测试平台：针对高速串行芯片设计，提供完整的发送端测试解决方案，配备高带宽实时示波器、探头、一致性测试夹具与软件，覆盖 PCIe/DDR/USB/ETH 等常用标准。
芯片验证测试平台：针对接收端容限测试，配备高速误码率分析仪、一致性测试夹具与软件，覆盖各类常用高速标准。

推荐设备

SMU 源测量单元：灵活、精准地同时提供和测量电流/电压
4200A-SCS 参数测试仪：直流特性、CV 特性与脉冲特性测试
2600-PCT 高功率器件参数曲线追踪仪：高压高流下的 IV/CV 测试
S500/S530/S540 自动化半导体测试系统：FA/QA/RA 全流程
MSO6 系列示波器：低噪声、高精度，用于 USB、DDR 和 PCIe 测试
DPO/MSO70000 示波器：最高 70GHz 带宽，数据通信领域测试
BSX320 误码仪：最高 32Gb/s 速率的高速总线自动误码检测

原文链接：https://www.tek.com.cn/solutions/industry/semiconductor-design-and-manufacturing

助力您的半导体设计更快上市

半导体材料测试平台：针对晶元级半导体材料或器件，泰克提供半导体参数分析仪（4200A-SCS），用于测试分离器件、材料的直流特性（IV/IT/VT/RT 曲线）、电容电压特性（CV 曲线）和脉冲特性测试（PMU），支持超高速脉冲与多通道同步测试。针对高功率半导体器件，提供高功率晶体管参数曲线图示仪（2600B-PCT），支持高压、高流条件下的 IV/CV 曲线测试。

半导体工艺测试平台：针对大规模晶元多点测试与复杂自动化系统，提供自动化半导体参数测试系统（S500/S530/S540），支持各类 Wafer 与 MEMS 的自动化、半自动化参数测试，广泛用于失效分析（FA）、质量控制（QA）与可靠性分析（RA），其中 S540 支持高压功率半导体自动化参数测试。

芯片设计测试平台：针对高速串行芯片设计，提供完整的发送端测试解决方案，配备高带宽实时示波器、探头、一致性测试夹具与软件，覆盖 PCIe/DDR/USB/ETH 等常用标准。

芯片验证测试平台：针对接收端容限测试，配备高速误码率分析仪、一致性测试夹具与软件，覆盖各类常用高速标准。

推荐设备

SMU 源测量单元：灵活、精准地同时提供和测量电流/电压

4200A-SCS 参数测试仪：直流特性、CV 特性与脉冲特性测试

2600-PCT 高功率器件参数曲线追踪仪：高压高流下的 IV/CV 测试

S500/S530/S540 自动化半导体测试系统：FA/QA/RA 全流程

MSO6 系列示波器：低噪声、高精度，用于 USB、DDR 和 PCIe 测试

DPO/MSO70000 示波器：最高 70GHz 带宽，数据通信领域测试

BSX320 误码仪：最高 32Gb/s 速率的高速总线自动误码检测