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协助客户送样评估设备性能、验证失效分析方案可行性,精准破解芯片与电子器件电性失效定位难题。
凌光红外测样服务核心目的为协助客户送样评估设备性能、验证失效分析方案可行性,精准破解芯片与电子器件电性失效定位难题。
客户可寄送样品至凌光红外应用实验室,由专业技术团队使用锁相红外显微镜、微光显微镜、激光诱导电阻变化显微镜等设备完成热成像、缺陷定位分析,并提供专业数据分析与技术咨询。
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