IGBT动态测试系统 MX300D 系列技术介绍

技术文章科威尔2020年6月5日

科威尔MX300D系列IGBT动态测试系统针对功率半导体制造商、质量检验机构及高校实验室，可完成单脉冲、双脉冲、开通关断及短路等动态特性测试。

科威尔于2018年开始积极布局，开发应用于IGBT模组研发、制造所使用的关键测试系统，并于2019年完成主力机型1500V/3000A的IGBT动态测试系统研发。

IGBT动态测试系统MX300D系列是一款针对功率半导体制造商、半导体器件质量检验机构、高校实验室测试IGBT动态特性的装置。

此外，科威尔自主研发的IGBT静态测试系统MX300S系列也已进入市场推广阶段，持续助力IGBT产品国产化进程。