Mini/Micro LED显示屏光学测试解决方案

系统简介

Mini/Micro-LED凭借自发光、广色域、对比度高、响应快等特点得到广泛应用。远方可提供从单颗芯片、LED模组到Mini/Micro-LED显示屏的综合测试解决方案，主要包括常规光色电参数、光强分布、亮度及色度均匀性、GAMMA曲线以及显示器视角特性、瞬时特性、串扰等综合特性参数测试。

单颗芯片光电性能测试

HSF-200搭载高灵敏绝对光谱辐射功率分析仪与高灵敏光强测量单元，可实现单颗及阵列Mini/Micro-LED发光光谱分布、辐射功率、光强、色品坐标、主波长、峰值波长、半宽度等参数精准测试。

二维面阵亮度色度均匀性分析

CXC-µ系列成像彩色亮度计精确匹配CIE1931配色函数，可实现二维亮度及色度测量，主要用于Mini/Micro LED像素级亮度及色度均匀性测量，成像质量好、精度高、速度快。

显示屏光谱、亮度与GAMMA/频闪

SRC系列高精度光谱辐射亮度计集成光谱、亮度、色度检测，低亮度下仍保持优异精度；DCA系列色彩分析仪用于Mini/Micro-LED、OLED等显示器的亮度、色度、GAMMA曲线及频闪参数测量。

光学视角特性综合测试

微显示屏光学综合特性测试系统主要测量光场特性、光谱、亮度、色度、色偏、色域、对比度、可视角特性、Gamma、Crosstalk、像素点缺陷、温度特性等，适用于Mini/Micro-LED、硅基OLED等微小型显示屏自动化测试。