多通道 SMU 赋能硅光器件并行测试

多通道 SMU 赋能硅光器件并行测试

AI 热潮下，传统光模块在速率、功耗和集成度面前已捉襟见肘。硅光技术凭借 CMOS 工艺“高集成、低成本”优势站上主流，但硅光芯片动辄集成数十上百个功能单元——多路调制器、探测器阵列交织其中，传统台式源表价格昂贵、集成度低，难以应对复杂驱动与测试要求。

微泰电子基于高密度 PXIe 架构推出四款高精度源测量单元（SMU），覆盖不同密度测试需求：

• MT5238（32 通道）：高密度并行测试旗舰，1MS/s 采样率，32 通道同步采集，面向大吞吐量产线。
• MT5232（12 通道）：均衡之选，24V/50mA 量程，兼顾通道数与单通道精度，适用于研发与中试。
• MT5201A（4 通道）：全能型，±150mA 电流、10pA 高分辨率，实验室与多场景通用。
• MT5252（2 通道）：极致精度，60V 高压、1fA 电流分辨率，专攻超低漏电器件表征。

多通道同步并行测试与 pA 级分辨率可大幅提升光电器件、尤其是硅光器件的测试效率，适配从晶圆级到器件级的测试需求。