HY-SMU1750源测量单元

产品特点

• 集多种设备功能于一体，融合了分析仪、曲线追踪仪和I-V系统的功能
• 0.012%测量准确度，分辨率6½数位
• 灵敏度更高，新增源/测量量程:20mV和10nA
• 源和阱(4象限)操作
• 4种“Quickset”模式，用于快速设置和测量
• 内建上下文相关的前面板帮助
• 前面板输入香蕉头输入;后面板三同轴输入连接
• 前面板USB端口，用于数据、编程、配置I/O

应用领域

• 适用于对各种现代电子设备和器件进行I-V特性分析和功能测试：
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• 分立和无源元件：两抽头器件，如传感器、磁盘驱动器头、金属氧化物可变电阻（MOV）二极管
•      齐纳二极管、电容、热敏电阻；三抽头器件如小信号双极结型晶体管（BJT）、场效应晶体管（FET）
• 简单IC器件：光学器件、驱动器、开关、传感器、转换器、稳压器
• 集成器件：小规模集成（SSI）和大规模集成（LSI）、模拟IC、射频集成电路（RFIC）、
•      专用集成电路（ASIC）、片上系统（SOC）器件
• 光电器件：发光二极管（LED）、激光二极管、高亮度LED（HBLED）、垂直腔面发射激光器
•    （VCSEL）、显示器
• 圆片级可靠性：NBTI、TDDB、HCI、电迁移 太阳能电池 电池